国产精品久久久久久久-国产精品久久久久野外-国产精品久久久一区-国产精品久久久影院-国产精品久久久在线-国产精品久久泡妞网站-国产精品久久性爱视频-国产精品久久一区
歡迎您來到韋氏納米系統(深圳)有限公司網站!
首頁
關于我們
產品中心
新聞資訊
技術文章
在線留言
聯系我們
新聞資訊
/ news
您的位置:
網站首頁
>
新聞資訊
> 韋氏納米中標華南理工大學霍爾效應測試儀
產品中心
product center
KLA/科磊
方塊電阻測量儀
薄膜厚度測量儀
表面缺陷檢測系統
納米壓痕儀
光學輪廓儀
探針式輪廓儀
薄膜測量系統
接觸角測量系統
橢偏儀
光譜反射儀
薄膜應力測量系統
微組裝系統
WB-200 半自動引線鍵合機
Deposition沉積系統
AT-400原子層沉積
Megasonic Clean /兆聲清洗系統
批量型兆聲清洗系統
測量儀器
聲表面波SAW功率發生器
Hall Effect
HMS-3300霍爾效應測試儀
HMS-3000霍爾效應測試儀
Etching/等離子蝕刻系統
等離子刻蝕ICP
Thin Film薄膜沉積系統
高密度化學氣相沉積系統
PECVD沉積
美國杜邦Dupont
光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-CMP Cleans
光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-Etch Cleans
光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 LED, TSV, & WLP Cleans
光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-Patterning Cleans
光刻膠蝕刻殘留物清洗劑Emerging Cleans
Ethcing/等離子蝕刻系統
等離子刻蝕ICP
Probe station/探針臺
磁體探針臺
低溫探針臺
Reflow Oven /回流焊
高真空MEMS焊封機
紫外掩膜對準曝光系統
紫外掩膜對準曝光系統
紫外掩膜曝光機
快速退火爐
快速退火爐
生命科學
人體運動能耗監測儀
PIE scientific
Semi-KLEEN Sapphire 等離子清洗機
SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機
Semi-KLEEN Quartz石英等離子體清洗機
EM-KLEEN等離子體清洗機
Tergeo-EM TEM/SEM 等離子體清洗機
Tergeo-Pro桌面等離子清洗機
Tergeo-Plus桌面等離子清洗機
Tergeo桌面等離子清洗機
離子源
氣體混配器
多用途樣品清潔及儲存腔室
TEM 樣品架真空泵站
JFP microtechnic
MPT手動拉力測試儀
焊線機
芯片鍵合機
韋氏納米中標華南理工大學霍爾效應測試儀
發布時間: 2019-01-15 點擊次數: 1496次
2018年11月7日,
我司中標了
華南理大學項目編號
SCUT[2018]WZ222,霍爾效應測試儀(霍爾效應測試系統1套)。
上一篇:
Harrick等離子清洗機的在運行時這些細節不能忽視
下一篇:
薄膜反射儀的使用反饋結果得到了用戶的好評
韋氏納米系統(深圳)有限公司
地址:廣東省深圳市寶安區鐵仔路九方廣場2棟902室
郵箱:support@firstnanosystem.com
傳真:400-9999-185
快速鏈接
首頁
關于我們
產品中心
新聞資訊
技術文章
在線留言
聯系我們
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
歡迎您關注我們的微信
了解更多信息
版權所有 © 2025 德國韋氏納米系統有限公司 All Rights Reserved
備案號:粵ICP備2025383420號
總訪問量:188252
管理登陸
技術支持:
化工儀器網
Sitemap.xml
18721247059
聯系我們
contact us
咨詢電話
400-9999-185
18721247059
掃一掃,
關注
我們
返回頂部
聯
系
我
們