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KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)同時(shí)測(cè)量反射和透射光譜,實(shí)現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價(jià)格合理,具備分析、FWHM確定及顏色分析功能,并可通過(guò)選配模塊擴(kuò)展其厚度和折射率測(cè)量能力。配備FILMeasure 8軟件和多種參考材料,支持多種薄膜類型,覆蓋從紫外到近紅外的寬波長(zhǎng)范圍,提供高效的測(cè)量結(jié)果輸出及全面的技術(shù)支持服務(wù)。
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一款專為測(cè)量單層和多層硬涂層設(shè)計(jì)的儀器,基于F20平臺(tái),采用光譜反射分析技術(shù),提供快速準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。該設(shè)備已在世界各地廣泛使用,尤其受到汽車硬涂層公司的青睞。附帶全套軟件、探頭及參考材料等配件,并提供持續(xù)的技術(shù)支持與升級(jí)服務(wù)。
KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng);經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測(cè)量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和配置相結(jié)合,可提供最大的通用性,可測(cè)量厚度為 1 納米至 3 毫米的薄膜。
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長(zhǎng)壽命、低功率光源可以測(cè)量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量到顏色、反射率和薄膜厚度。
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測(cè)量?jī)x便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長(zhǎng)壽命、低功率光源可以測(cè)量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量到顏色、反射率和薄膜厚度。