国产精品久久久久久久-国产精品久久久久野外-国产精品久久久一区-国产精品久久久影院-国产精品久久久在线-国产精品久久泡妞网站-国产精品久久性爱视频-国产精品久久一区

半導體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量，以及用于研發和生產環節的2D翹曲度和應力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學器件。